IC測(cè)試治具方式能幫您很好地解決這個(gè)問(wèn)題。
關(guān)于定制的IC測(cè)試夾具,它基于您現(xiàn)成的測(cè)試主板來(lái)實(shí)現(xiàn)的。當(dāng)您有一款芯片需要測(cè)試并確認(rèn)其功能是否良好,或者說(shuō)在某個(gè)主板上是否測(cè)試這款芯片是否匹配這個(gè)主板的功能。這樣的話,您可以通過(guò)選擇一個(gè)主板(通用類主板或者公版主板)去制作IC測(cè)試治具。
IC測(cè)試座的結(jié)構(gòu)可知,其結(jié)構(gòu)分別由引導(dǎo)板,安裝板,固定板,亞克力板。
機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)一般選用CCD或CMOS工業(yè)相機(jī)攝取檢測(cè)圖像并轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào),再經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)軟、硬件技術(shù)對(duì)圖像數(shù)字信號(hào)進(jìn)行處理,然后得到所需求的各種目標(biāo)圖像特征值,并由此完成零件辨認(rèn)或缺點(diǎn)檢測(cè)等多種功能。
在國(guó)外,視覺(jué)的使用廣泛首要體現(xiàn)在半導(dǎo)體及電子工作,其間大約40-50%都會(huì)集在半導(dǎo)體工作。具體如:PCB印刷電路:各類生產(chǎn)印刷電路板拼裝技術(shù)、設(shè)備;單、雙面、多層線路板,覆銅板及所需的材料及輔料;輔助設(shè)備以及耗材、油墨、藥劑、配件;電子封裝技術(shù)與設(shè)備;絲網(wǎng)印刷設(shè)備及絲網(wǎng)周邊材料等。
進(jìn)口稍好但一般影響不大,彈簧及鍍層的質(zhì)量這方面進(jìn)口產(chǎn)品比國(guó)內(nèi)要好許多,臺(tái)灣香港產(chǎn)的比國(guó)內(nèi)稍好一些,原因主要是工藝水平上的差別,國(guó)產(chǎn)的探針鍍層抗磨損較差鍍層簡(jiǎn)單掉落。
假如制造的測(cè)試治具使用時(shí)間及測(cè)試次數(shù)超越15萬(wàn)次以上選用進(jìn)口產(chǎn)品較為合適,但進(jìn)口的探針價(jià)格較貴。現(xiàn)在國(guó)內(nèi)的制造水平緩工藝逐步提高,而且在當(dāng)前價(jià)格大戰(zhàn)的狀況下,不少代理商用國(guó)產(chǎn)針假充進(jìn)口或臺(tái)灣產(chǎn)的探針出售。假如測(cè)試要求和測(cè)試次數(shù)不高的話建議可選用國(guó)產(chǎn)探針。FCT測(cè)試治具探針的質(zhì)量主要對(duì)測(cè)試治具制造中的測(cè)試次數(shù)及觸摸是否良好有關(guān)。